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    資訊動態

    兩探針電阻率測試儀
    GDW3-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國，標準及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合於測量模截麵尺寸是可測量的，而且棒的長度大於橫截麵線度的有規則的長棒，例如橫斷麵為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由於兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優於四探針法。**是對多晶材料的測量，由於多晶晶粒間界處，雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化，這種影響對四探針法%為嚴重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。
    本儀器除適合測量體形有規則的單晶棒外，也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區熔多晶鍺電阻率，在我國已有四十多年的實踐經驗，對區熔鍺錠橫截麵麵積的變化已總結出一套計算方法，本儀器采用李賀成**提出的計算公式編寫程序，可用微機HQ-710C處理區熔鍺錠的測量數據，或采用KDY測量係統，軟件測量數據，並根據北京有色金屬研究總院餘懷之**的提議，擴大了微處理機的數據處理範圍。
          本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試台及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以**之幾的精度）適時監測，程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，%及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，%好地保護被測材料。儀器配置了本公司的，產品：“小遊移探針頭”，間距為10mm的兩探針頭探針遊移率在0.02～0.05%。，了儀器測量電阻率的重複性和準確度。本機需配用HQ-710C數據處理器或KDY測量係統，軟件，置入，須的數據後，處理器會配合探頭在鍺錠上移動測量，自動計算、打印出%點的電阻率、電阻率的，值、電阻率，值，給測量帶來很大方便。
    主機，參數
    （1）測量範圍：
     可測電阻率：鍺晶體0.1-100Ω·cm
     可測鍺錠尺寸：，長度700mm；，高度50mm；，寬度60mm。
    （2）恒流源：
     輸出電流：DC 0.004-100mA  五檔連續可調
     量程：0.004-0.01mA   
              0.04-0.10mA
              0.4-1.0mA 
              4.0-10mA
              40-100mA
    恒流精度：%檔均優於±0.05%
    （3）直流數字電壓表：
     測量範圍：0-199.99mV
     靈敏度：10μA
     基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
     輸入阻抗：≥1000MΩ
    （4）電阻測量誤差：≤0.3%
    （5）兩探針頭：KDT-5
     探針間距：10.00±0.02mm  
     遊移率：0.02-0.05%          
     探針壓力：4±1N/單針
    （6）供電電源：
     AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率：12W
    （7）使用環境：
     溫度：23±2℃   相對溫度：≤65%
     *較強的電場幹擾，*強光直接照射。
    （8）重量、體積：
     主機重量：7.5Kg
     體積：390×340×190（單位：mm  長度×寬度×高度）
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