霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度範圍內對霍爾係數和電導率的聯合測量，進行半導體導電機製及散射機製的研究，並可確定半導體的一些基本參數，如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。