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    產品資料

    GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀

    如果您對該產品感興趣的話,可以
    產品名稱: GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀
    產品型號: GDW3-LT-1A
    產品展商: ghitest
    產品文檔: *相關文檔

    簡單介紹

    用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量,除需要有一個測量平麵外,對樣塊體形*嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況,是單晶的重要檢測項目。


    GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀  的詳細介紹
    用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量,除需要有一個測量平麵外,對樣塊體形*嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況,是單晶的重要檢測項目。
    2、  設備組成
    2.1、光脈衝發生裝置
    重複頻率>25次/s      脈寬>60μs          光脈衝關斷時間<0.2-1μs
    紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量矽單晶)   脈衝電流:5A~20A
    如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
    2.2、高頻源
    頻率:30MHz       低輸出阻抗      輸出功率>1W
    2.3、放大器和檢波器
    頻率響應:2Hz~2MHz
    2.4、配用示波器
    配用示波器:頻帶寬度不低於40MHz,Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
    3、測量範圍
    LT-1可測矽單晶的電阻率範圍:ρ≥3Ω·㎝(歐姆·厘米),壽命值的測量範圍:5~6000μs
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