產品簡介 GSKDY測量係統微控製器及配套軟件於矽晶體的電阻率測量，集多種測量方法為一體，是與電阻率測試儀配套使用，自動獲取電壓讀數，計算並修正電阻率值，數據自動保存，快速查詢，提供打印及導出格式，操作簡單，方便。
測量係統（含通訊）設計語言：VC++ 可對四探針、兩探針電阻率測量數據進行處理並修正測量數據，特定數據存儲格式，顯示變化曲線兼容性：適用於**電腦，支持 Windows XP、Vista，